M. Eisenmann, A. Reinke, V. Weru, M. D. Tizabi, F. Isensee, T. J. Adler, S. Ali, Andrearczyk. Vincent, M. Aubreville, U. Baid, S. Bakas, N. Balu, S. Bano, J. Bernal, S. Bodenstedt, A. Casella, V. Cheplygina, M. Daum, M. De Bruijne, Adrien Depeursinge, R. Dorent, J. Egger, D. G. Ellis, S. Engelhardt, M. Ganz, N. Ghatwary, G. Girard, P. Godau, A. Gupta, L. Hansen, K. Harada, M. Heinrich, N. Heller, A. Hering, A. Huaulmé, P. Jannin, A. E. Kavur, O. Kodym, M. Kozubek, J. Li, H. Li, J. Ma, C. Martín-Isla, B. Menze, A. Noble, Valentin Oreiller, N. Padoy, S. Pati, K. Payette, T. Rädsch, J. Rafael-Patiño, V. Singh Bawa, S. Speidel, C. H. Sudre, K. Van Wijnen, M. Wagner, D. Wei, A. Yamlahi, M. H. Yap, C. Yuan, M. Zenk, A. Zia, D. Zimmerer, D. Aydogan, B. Bhattarai, L. Bloch, R. Brüngel, J. Cho, C. Choi, Q. Dou, I. Ezhov, C. M. Friedrich, C. Fuller, R. R. Gaire, A. Galdran, Á. García Faura, M. Grammatikopoulou, S. Hong, M. Jahanifar, I. Jang, A. Kadkhodamohammadi, I. Kang, F. Kofler, S. Kondo, H. Kuijf, M. Li, M. Luu, T. Martincic, P. Morais, M. A. Naser, B. Oliveira, D. Owen, S. Pang, J. Park, S. Park, S. Plotka, E. Puybareau, N. Rajpoot, K. Ryu, N. Saeed, A. Shephard, P. Shi, D. Štepec, R. Subedi, G. Tochon, H. R. Torres, H. Urien, J. L. Vilaça, K. A. Wahid, H. Wang, J. Wang, L. Wang, X. Wang, B. Wiestler, Marek Wodzinski
2023 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR)
Link to the conference